單片機實驗報告14篇

篇一 2023年單片機綜合實驗報告格式

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇二 單片機綜合實驗報告通用格式

在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇三 2023年單片機綜合實驗報告

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇四 單片機綜合實驗報告樣文

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇五 單片機綜合實驗報告范本

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇六 單片機綜合實驗報告

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇七 2023單片機綜合實驗報告格式

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇八 單片機綜合實驗報告范例

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇九 單片機綜合實驗報告的格式

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇十 單片機綜合實驗報告格式

單片機綜合實驗報告格式

(在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容)

綜合實驗報告標題(可與實驗名稱不同)

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

(一)實驗內(nèi)容。

(二)實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

(三)實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

(1)對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。(2)列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

(3)畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫出實驗程序。

(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的.方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

(四)實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

[單片機綜合實驗報告格式]

篇十一 單片機綜合實驗報告格式范文

在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇十二 精選單片機綜合實驗報告

（在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇十三 最新單片機綜合實驗報告

在所做過的實驗內(nèi)容里挑選一個自己最有收獲，最有感想的實驗內(nèi)容）

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。

篇十四 2023年最新單片機綜合實驗報告格式

綜合實驗報告標題（可與實驗名稱不同）

一、實驗目的和要求。

二、實驗儀器設(shè)備。

三、實驗設(shè)計及調(diào)試：

（一）實驗內(nèi)容。

（二）實驗電路：畫出與實驗內(nèi)容有關(guān)的簡單實驗電路。

（三）實驗設(shè)計及調(diào)試步驟：

（1）對實驗內(nèi)容和實驗電路進行分析，理出完成實驗的設(shè)計思路。（2）列出程序設(shè)計所需的特殊標志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會出現(xiàn)沖突的問題。

（3）畫出程序設(shè)計流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實驗程序。

（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應的內(nèi)容。

d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

（四）實驗調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

四、實驗后的經(jīng)驗教訓總結(jié)。